cad

Infrarot-Videomessmikroskop VMU series
InspektionHellfeldDunkelfeld

Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld
Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld
Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld - Bild - 2
Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld - Bild - 3
Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld - Bild - 4
Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld - Bild - 5
Infrarot-Videomessmikroskop - VMU series  - MITUTOYO - Inspektion / Hellfeld / Dunkelfeld - Bild - 6
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Infrarot
Anwendungsbereich
Inspektion
Beobachtungstechnik
Hellfeld, Dunkelfeld
Konfigurierung
kompakt
Gewicht

650 g, 750 g, 1.270 g, 1.300 g, 1.400 g
(22,9 oz, 26,5 oz, 44,8 oz, 45,9 oz, 49,4 oz)

Beschreibung

Mikroskopaufstellungen für die Beobachtung, Messung und Verarbeitung von Systemen -Kompakte und leichte Mikroskopeinheit für die Beobachtung mit einer Kamera. Geeignet für die Inspektion von Metalloberflächen, Halbleitern, Flüssigkristallsubstraten, Resm, usw. ein vielseitiger Mikroskopkopf, der typischerweise als OEM-Produkt verwendet wird und sich für den Einbau in Spezialmaschinen eignet, z. B. für die Inspektion und Reparatur von Halbleiterwafern mit YAG-Lasern (im nahen Infrarot, im sichtbaren, im nahen Ultraviolett oder im Ultraviolett)* - Die Leistung und Sicherheit der mit dem Laser ausgestatteten Systemprodukte kann nicht garantiert werden. Anwendung: Schneiden, Trennen, Korrigieren von Halbleiterschaltungen / Trennen und Bearbeiten von dünnen Isolierschichten, Reparieren (Korrigieren von Fehlern) von Flüssigkristall-Kofiltern. für VMU-LB und VMU-IB. wurden die Steifigkeit und die allgemeine Leistung der Mikroskop-Mam-Einheit im Vergleich zu den vorherigen Modellen verbessert -Anwendungen* Interne Beobachtung von Siliziumsystemen, Analyse von Spektralcharakteristiken mittels Infrarot, usw. -Ein Infrarotsensor und eine Infrarotkamera sind erforderlich -Ein mit einer Aperturblende ausgestattetes telezentrisches System gehört zur Standardausstattung des optischen Oberflächenbeleuchtungssystems Am besten geeignet für die Verarbeitung von Bildern, für die eine gleichmäßige Beleuchtung erforderlich ist. Erhältlich für die Dimensionsmessung, Formprüfung, Positionierung, etc. -Entwurf und Herstellung sind verfügbar, um Ihre Anforderungen wie doppelte Kameramontage, doppelte (niedrige/tngh) Vergrößerung zu erfüllen.

---

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von MITUTOYO anzeigen

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

MECSPE 2025
MECSPE 2025

5-07 März 2025 BOLOGNA (Italien) Halle 29 - Stand D44

  • Mehr Informationen
    Global Industrie 2025
    Global Industrie 2025

    11-14 März 2025 Lyon (Frankreich) Stand 2K114

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.