Messanlage

MicroXact arbeitet seit langem mit seinen Kunden zusammen, um anwendungsspezifische und hochgradig kundenspezifische Messlösungen zu entwickeln, die den sich ständig ändernden Anforderungen gerecht werden, einschließlich erweiterter Temperaturbereiche und kundenspezifischer optischer Integration. Wir sind bestrebt, Lösungen zu finden, die Ihnen helfen, Ihre Testkosten zu senken. Beispiele für solche Lösungen finden Sie unten: Kundenspezifische Wafer-Probe-Station - Prüfen unter externer Beleuchtung Eine Reihe von optoelektronischen Komponenten (IR-Sensoren, Bolometer, Focal-Plane-Arrays, Photovoltaikmodule usw.) erfordern eine externe Beleuchtung und eine kundenspezifische Optikintegration während der Prüfung. Diese Beleuchtung reicht von Schwarzkörperbeleuchtung über Sonnensimulatorbeleuchtung bis hin zu Beleuchtung mit gepulstem, moduliertem oder kontinuierlichem Laserlicht. Eine weitere Gruppe von Anwendungen, die eine externe Beleuchtung erfordern, betrifft das Lasertrimmen oder -schneiden. MicroXact hat Erfahrung mit der Anpassung seiner Prüfköpfe für diese Art von Anwendungen und arbeitet gerne mit seinen Kunden zusammen, um praktische und kosteneffektive Lösungen für die kundenspezifischen Anforderungen an Prüfstationen zu finden. - Sondenstationen für den erweiterten Temperaturbereich Eine wichtige Untergruppe von Anwendungen bezieht sich auf die Prüfung von THz-Geräten und Wafern bei kryogenen Temperaturen. Um diese Probleme zu lösen, bietet MicroXact sowohl Standard-Sondenstationen mit erweitertem Temperaturbereich als auch kundenspezifische Lösungen für ungewöhnlich hohe Wärmelasten, Hochfrequenztests (110GHz und darüber) sowie für ungewöhnlich hohe thermische Massen der Testobjekte an.