Kryogen-Messanlage CPS-XXX-CF

Die Cryogenic Probe Station Modell CPS-XXX-CF ermöglicht kosteneffiziente, stabile, zuverlässige und bequeme Halbleitertests bei niedrigen Temperaturen und sogar kryogene Wafer-Tests von Geräten und Schaltungen. Dank der integrierten Schwingungsisolierung, des intelligenten Wärmemanagements und der technischen Kompensation der Wärmeausdehnung eignet sich diese kryogene Prüfstation ideal für eine breite Palette von Anwendungen, die von der Nanoelektronik (Graphenforschung, Molekularelektronik, Quantencomputer usw.) bis hin zur weltraumgestützten Elektronik reichen. Das kryogene Sondenstationssystem verwendet einen geschlossenen Kühlkreislauf und ein proprietäres Wärmemanagement, das einen kostengünstigen und schnellen Betrieb ermöglicht. Die kryogenen Sondenstationen von MicroXact verfügen über eine integrierte Schwingungsisolierung, die die Vibrationen auf ein branchenübliches Niveau reduziert. Ultrastabile mikromanipulierte Tische ermöglichen einen genauen und reproduzierbaren Kontakt der Sondenspitze mit den Bauteilmerkmalen. Die große Auswahl an Sonden und Wafer Chucks ermöglicht Anwendungen, die von ultrapräzisen Messungen im fA-Maßstab bis hin zu HF-Messungen und vielem mehr reichen. Eine Reihe von Sondenmanipulatoren und Sondenspitzen sind für die Verwendung mit den kryogenen Sondenstationen von MicroXact erhältlich. Merkmale der kryogenen Sondenstation - Kostengünstig, stabil, zuverlässig und bequem in der Anwendung. - Kryogenes Testen im Wafer-Maßstab und Halbleitertests bei niedrigen Temperaturen. - Temperaturbereich von 4K bis 480K (0,1K oder bessere Genauigkeit). Verschiedene Bereiche sind verfügbar, wenn sie mit verschiedenen CCRs ausgestattet sind. - Geschlossener Kühlkreislauf für kosteneffizienten kryogenfreien Betrieb. - Kryogene Bauteilcharakterisierung von Wafern mit bis zu 1", 2", 4", 6" oder 8" Durchmesser (je nach Modell).