Halbleiter-Prüfanlage VIP EXTENDED

Qualitätautomatischfür Wafer

Automatische Prüfgeräte, die für Si-, SiC- und GaN-Leistungsprodukte konfigurierbar sind; High-Side- und Low-Side-Treiber-ICs, IGBT, Leistungs-MOSFETs, Leistungs-ICs. Höhepunkte: - Hohe UPH für Wafersortierung und Streifentest - 48 x parallele Prüfung für Rg, Cg und UiS - Geringste COT für Leistungsprodukte Hauptmerkmale: - DC [4 Quadranten erdbezogen] Quellen mittlere Leistung: bis zu 64 Ressourcen [±110V, ±4A] - DC Programmierbare Stromsenke/Quelle: bis zu 64 Quellen [bis zu ±250A] - Digitale Kanäle: bis zu 320 Kanäle [-1,25V bis 6,75V Ausgangspegel, 50mA, aktive Last ±12mA, 64M Pattern Memory/ch, 32M DSIO Memory/ch, eine PPMU pro Kanal] - Zeitmesseinheit bis zu 64 - Floating Digital Driver bis zu 192 - LCR-Meter: bis zu 64 - PPMU: bis zu 64 - Pico-Meter: bis zu 64 [20pA als Genauigkeit] - Induktive und ohmsche Lasten: bis zu 64 x2 Abmessungen - Höhe: 350 mm - Breite: 600 mm - Tiefe: 640 mm