Automatische Prüfgeräte der neuen Generation, konfigurierbar für Si-, SiC- und GaN-Leistungsprodukte; High-Side- und Low-Side-Treiber-ICs, IGBT, Leistungs-MOSFETs, Leistungs-ICs.
Konfigurationen:
VIP Ultra STD 80V
- 250A (48 Standorte)
VIP Ultra HV 1,7kV
- 250A (32 Standorte)
VIP Ultra HV 4kV
- 250A (16 Standorte)
Höhepunkte:
- Niedrigste TCO für Stromprodukte
- Doppelter Durchsatz
- Minimale Stellfläche
Die maßgebliche Plattform für das gesamte Spektrum der Leistungsanwendungen
- Prüfung von Wafern
- Leistung Diskret
- Leistungsmodule
- Intelligente Stromversorgungsgeräte
- High Side und Low Side Treiber-ICs
Hauptmerkmale:
- DCS-Quellen [4 Quadranten erdbezogen]: bis zu 48 Ressourcen [±80V, ±4A]
- DC-Programmierbare Lastsenke/-quelle: bis zu 48 Ressourcen [bis zu ±250A]
- Digitale Kanäle: 320 Ressourcen [0V bis 5,5V Ausgangspegel, 50mA, DSIO Speicher/ch, eine PPMU pro Kanal]
- Zeitmesseinheit: bis zu 48
- Differenzspannungsmessgeräte: bis zu 48
- Floating Digital Driver: bis zu 192
- LCR-Messgeräte: bis zu 48
- PPMU: 64
- Pico-Meter: bis zu 48 [20pA als Genauigkeit]
- Induktive und ohmsche Lasten
Abmessungen
- Höhe: 647 mm
- Breite: 638 mm
- Tiefe: 702 mm
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