Eigenschaften
■ Niedrigste Induktivität (≥0,1μH)
■ Hochspannungskalibrierung
■ Programmierbare Impulsspannung
■ 200MHz/9bit hohe Impulstest-Abtastrate
■ Gesamtflächenvergleich
■ Differenzieller Flächenvergleich
■ Korona-Vergleich
■ LAPLACIAN-Vergleich
■ Spannungskompensationsfunktion
Die MICROTEST 7750 Serie ist ein fortschrittlicher Impulswicklungsprüfer mit einem schnelleren Farbdisplay. Es bietet Impulsspannungsausgänge von 1200V/5200V/10000V und verwendet eine Hochgeschwindigkeits-Abtasttechnologie mit 200MHz/9 Bits. Er bietet verschiedene Vergleichsmodi wie Gesamtfläche, Flächendifferenz, Koronazählung, Jitterzählung, Differenzierung zweiter Ordnung und Wellenformvergleich. Mit einer Prüfgeschwindigkeit von bis zu 10 Mal pro Sekunde ist es ideal für Hochgeschwindigkeits-Produktionslinien.
Für die Prüfung von kleinen Bauteilen wird das optionale Prüfgerät 7750-1S mit der Vierdraht-SMD-Bauteilprüfvorrichtung FX-IM0001 geliefert. Er verfügt über eine Spannungskompensation zur Minimierung von Spannungsfehlern, die durch Verdrahtung und äquivalente Induktivität verursacht werden, und gewährleistet eine genaue Qualitätskontrolle für Produkte mit geringer Induktivität.
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