Weißlicht-Interferometer zur stabilen Dickenmessung mit Submikrometer-Genauigkeit
Das neue Weißlichtinterferometer IMS5200-TH eröffnet neue Perspektiven für eine schnelle und stabile Dickenmessung. Der Controller verfügt über eine intelligente Auswertung und ermöglicht die präzise Dickenmessung von transparenten Schichten bereits ab 1 µm Materialstärke. Dank der hohen Messrate von bis zu 24 kHz sind die IMS5200 Modelle bestens für den industriellen Einsatz geeignet. Nanometergenauigkeit für mikrometer-dünne Schichten.