Analysator / ionischer Kontamination CONTAMINO CT1 series

WasserElektrolytenfür Qualitätskontrolle

Die CT10, CT100 und CT1000 wurden entwickelt, um einfache und genaue Ionenverschmutzungstests in voller Übereinstimmung mit MILP-28809, MIL-STD-2000A, EF-STD 10/03, IPC-TR-583, IEC-Normen... durchzuführen. Diese Maßnahmen sind notwendig, um die Sauberkeit von Leiterplatten und Baugruppen nach der Reinigung oder im Falle neuer Lötprozessparameter (kein sauberer Prozess, konforme Beschichtung, bleifreie Legierung mit neuem Aktivator...) für die Qualitätskontrolle und Zulassung zu überprüfen. In feuchter Atmosphäre wird die ionische Verunreinigung in einen Elektrolyten umgewandelt, der bewegliche Ionen einfängt, die zu Fehlern in elektronischen Baugruppen führen können (Dendriten, schlechte Isolierung mit Leckströmen...). Der Test auf Ionenverschmutzung zeigt diese Risiken auf, sichert den entsprechenden Montageprozess und verlängert die Lebensdauer und Zuverlässigkeit des Endprodukts. Das Verfahren besteht zunächst darin, die Probe mit Hilfe von 2-Propanol und entionisiertem Wasser (75/25 oder 50/50) effizient zu reinigen, während die Kontaminationsentwicklung in der Reinigungslösung, die in einem geschlossenen Kreislauf läuft, kontinuierlich analysiert wird. ANWENDUNGSFÄLLE - Koffer STPI - Gehäuse AlbaPCB SPEZIFIKATIONEN Kontrolle der ionischen Verunreinigung von PCB-Komponenten und Prozessen (mit/ohne Reinigung, mit/ohne Blei) Entspricht den Anforderungen von MIL, IPC, IEC... 3 Anlagen, abhängig von der Größe der Leiterplatten: CT 10 Bis zu 25 x 100 x 150 mm (min. Größe der Einzelplatine 20 cm²) CT 100 Bis zu 80 x 250 x 350 mm (min. Größe 100 cm2) CT 1000 Bis zu 120 x 500 x 660 mm (Mindestgröße der Einzelplatine 500 cm2)