Optisches Mikroskop ML6130

für AnalyseaufrechtHellfeld

PolarisierenPLM (polarisiertes Licht) Mikroskop für Asbestfaser-Kennzeichnungsanwendungen. Meiji stellt diese Mikroskope gemäß NIOSH 9002 Bezugsmethoden her, wenn freiem Kondensator der Belastung und die Zerstreuung Zielsetzungen und übertragene Koehler Belichtungseinheit beflecken, mit 6V 30W Halogenlampe mit variabler Intensitätssteuerung. Meiji Techno bietet die MT6120 PLM (polarisiertes Licht) Mikroskope für Asbestfaser-Kennzeichnungsanwendungen an. Meiji Techno stellt diese Mikroskope gemäß NIOSH 9002 Bezugsmethoden her. Diese Modelle wenden die Phasenkontrastmethode für das Zerstreuungsbeflecken an. Jedes Modell kommt mit Belastungs-freien Plan LÄRM brightfield POL-Zielsetzungen, drehbarem Stadium mit den 360-Grad-Staffelungen, achromatischem Kondensator und eingebauter Koehler Belichtungseinheit als Standardausrüstung.