Optische Inspektionsmaschine MRD-3100 series

für Wafer-LEDPartikelIndustrie

Ball AOI / Bump AOI Produktpräsentation Partikelprüfgeräte der Serie MRD-3100 für COG-, FOG- und COF-Produkte, insbesondere für die Erkennung von Bindungsfehlern bei LCD-Anzeigemodulen. Führend in der Industrie, erreicht das technische Niveau seines Gegenstücks aus Südkorea; Erfüllt die Anforderungen von LCD-Modulen in verschiedenen Größen, einschließlich intelligenter tragbarer Geräte, Mobiltelefone, Tablets, Laptops, Fahrzeuggeräte, Displays, TVs und anderer Produkte Annahme des modularen Designs, anwendbar auf einseitige, mehrseitige COG, FOG, COF Prozess Produktinspektion. Abdecken der folgenden Erkennungsmerkmale: Bump-Offset, Partikelanzahl, Bump-Fremdkörper, FPC-Korrision und Bump-Bereich-Rissfragmente Kugel-AOI / Bump-AOI Schlüsselpunkte 1. Erkennungsgenauigkeit: 3um, führend in der Industrie 2. Software-Funktionen: unabhängig entwickelte Algorithmen, Software-Funktionsanpassungsdienste; 3. Autofokus-Bildgebungssystem, das den Erkennungsanforderungen von Produkten unterschiedlicher Größe gerecht wird;