Röntgenspektrometer Epsilon 1

Röntgenfluoreszenzfür ElementaranalysenInspektion

Benötigen Sie eine Elementaranalyse von kleinen Objekten oder kleinen Einschlüssen in elektronischen Geräten, Spielzeug, Schmuck, Gesteinen oder Endprodukten? Das Epsilon 1 für die Punktanalyse, ein kompaktes Röntgenfluoreszenzspektrometer mit einer Analysefleckgröße von 0,8 x 1,2 mm, ist die ideale analytische Lösung für eine flexible und präzise Punktanalyse. Dank seines eigenständigen Designs und seiner kleinen Standfläche kann das Epsilon 1 dicht am Probenort platziert werden. Damit wird das Gerät zu einer idealen Lösung für Elementaranalysen aller Art in Produktionsanlagen, an Explorationsstellen, auf Ladentischen oder sogar an Tatorten zur forensischen Untersuchung. Die Leistung des Spektrometers erfüllt die Standardtestmethoden, die von verschiedenen Richtlinien und Vorschriften in verschiedenen Industriemärkten gefordert werden, wie z. B. RoHS-3 für Elektronik und CPSIA für viele Konsumgüter. Robuste und flexible Quantifizierung Genaue Ergebnisse werden für eine Vielzahl von Anwendungen bereitgestellt, wie Prüfungen von RoHS-3-Richtlinien, WEEE, ELV, Spielzeug, Schmuck, Gesteinen und Endprodukten. Dies wurde durch Omnian ermöglicht, dem marktführenden Softwarepaket von PANalytical zur standardfreien Analyse, das auch bei aufwendigeren RFA-Geräten eingesetzt wird. Omnian ist eine sofort einsatzbereite Lösung, mit der unterschiedlichste elementare Zusammensetzungen analysiert werden können, die sich über das gesamte Periodensystem erstrecken, Mit speziellen Kalibrierungen können internationale Testmethoden wie ASTM F2617 (RoHS) befolgt oder Screenings gemäß den Spezifikationen aus ASTM F963 (Spielzeug) und IEC 62123 (Elektronik) durchgeführt werden.