Berührungsloses offenes Laserscale Längenmesssystem mit 400 nm Signalperiode. Ideal geeignet für X/Y Verfahreinheiten in Halbleiter-, Messanwendungen und Ultrapäzisionsbearbeitung.
Verfügbar in Messlängen von bis zu 1360 mm und Ansprechgeschwindigkeiten von bis zu 3 m/s
Aufgrund der Signalperiode von 400 nm beträgt der Interpolationsfehler weniger als +/-4 nm
Eingebauter Referenzpunkt / Bezugspunkt
Anwendungen : X/Y Verfahreinheiten und Messanwendungen
Die kompakte Bauform ohne Referenzmarke zur einfachen Integration.
Unempfindlich gegenüber Temperaturänderungen, Luftfeuchtigkeit, Luftdruck und Luftzirkulationen.
Aufgrund der Signalperiode von 400 nm beträgt der Interpolationsfehler weniger als +/-4nm
Anwendungen : X/Y Verfahreinheiten und Messanwendungen