Das Laserstrahl-induzierte Strom-/Spannungsmesssystem (LBIC/LBIV) ist ein wichtiges Messgerät zur Charakterisierung der Photovoltaik, das die induzierte Strom-/Spannungsverteilung messen kann. Es kann verschiedene Arten von Defektverteilung und Gleichmäßigkeit analysieren, wie z. B. die induzierte Strom-(Spannungs-)verteilung der Solarzelle, die Quanteneffizienz und die Widerstandsverteilung des photoelektrischen Elements, die Erforschung der Elementabsorption und der Mikrobereichscharakteristik der Ladungserzeugung und die Qualität des Übergangs von Photovoltaik-Material und Halbleiter. Es wird helfen, die Eigenschaften des photovoltaischen Elements und die Defektverteilung zu verstehen, was zur Verbesserung des Prozesses beiträgt.
Merkmal:
- 2D/3D-Induktion der Leerlaufspannung/Stromverteilung mit unterschiedlicher Bildinterpolation
- Analyse der Leerlaufspannungs- (Voc) und Kurzschlussstrom- (lec) Verteilung. Für Absorber mit gleicher Bandlücke ist die LBIV-Intensität proportional zur lokalen Leerlaufspannung (Voc). Die Nebenschlusspunkt-/Flächenauswertung kann auch für c-Si, uc-Si und Dünnschicht-Solarzellen analysiert werden
- Einstellung von Laserleistung, Scan-Schritt und Verweilzeit des Scan-Punktes
- Ausgestattet mit Laser mit mehreren Wellenlängen (405nm, 532nm, 660nm oder andere), um das 3D-Tiefen-induzierte Voktage-/Strombild abzubilden und die Charakteristik des Photolumineszenz-Spektrums zu analysieren (Option)
- Integration mit Temperatursteuerungsplattform für den Temperaturkoeffizienten der Bandlücke (Option)
- Untersuchung der lichtinduzierten Degradation (LID) (Option)
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