Winkelmesssystem

Rauheitautomatischzur Kalibrierung

Dieses System ist für die 2D-Vollwinkelreflexionsmessung, einschließlich der Oberflächenanalyse von Proben oder der spiegelnden Reflexion des Films, die die Fähigkeit der automatischen Messung der Mehrwinkelstreuung und ihre Abhängigkeit von der Wellenlänge fördern. Dieses System kann auch für die Messung des Oberflächenreflexionsgrads, der Oberflächenrauheit und der Schichtdicke eingesetzt werden analyse der Schichtdicke, etc. Mit dem Design der rotierenden Plattform zu erweitern in 3D Vollwinkel-Reflexion und diffuse Mess-System oder Reflexion, Transmission und Absorption System, das in der Regel in der Halbleiter-, 2D-oder 30-Material, Fotoleiter, Solarenergie, LED angewendet werden, panel. Beschichtung und relative Industrien. Merkmale - Messbarer Spektralbereich: 380~1100nm, 280~1050nm, 900~1600nm - Automatische Kalibrierungsfunktion - Reflexionsmessung von Einstrahl- und Reflexionswinkel durch Programmsteuerung - Reflexions-Scanning-Messung eines einzelnen Einfalls- und Reflexionswinkelbereichs durch Programmsteuerung} - Programmgesteuerte Reflexionsmessung für einen bestimmten Einfalls- und Reflexionswinkelbereich - Messung und Analyse des Reflexions-/Diffusionsverhältnisses in Abhängigkeit von der Wellenlänge - Durchführen von Schichtdickenberechnungen einzelner Schichten - Datenbankaufzeichnung zur Historienverfolgung - Das System kann zur Messung der Transmission und Absorption erweitert werden - Mit der drehbaren Plattform zur Messung der 3D-Vollwinkelreflexion und der diffusen Reflexionskurve Anwendung in anderen Bereichen: - Spektrummessung der Metamaterialprobe bei unterschiedlicher Polarisation - Spektrummessung der Winkelabhängigkeit an anisotropen Folien oder kristallinen Proben