Das AQ3400 integriert 2 Kanäle von Lenkdioden mit niedriger Kapazität und eine zusätzliche Zenerdiode zum Schutz von Elektronikgeräten, die zerstörerischen elektrostatischen Entladungen (ESD) ausgesetzt sein können. Das AQ3400 kann wiederholte ESD-Schläge oberhalb des im internationalen Standard IEC 61000-4-2 (Level 4, ±8 kV Kontaktentladung) angegebenen maximalen Kontaktpegels ohne Leistungsminderung sicher aufnehmen. Die niedrige Kapazität im ausgeschalteten Zustand macht es ideal für den Schutz von Hochgeschwindigkeits-Signalleitungen wie USB 2.0 oder USB 3.0 und 1-Gb-Ethernet mit einem extrem niedrigen dynamischen Widerstand, um die empfindlichsten, hochmodernen Chipsätze vor ESD-Transienten zu schützen.
Funktionen:
• ESD, IEC 61000-4-2, ±30 kV Kontakt, ±30 kV Luft
• ESD, ISO 10605, 330 pF 330 Ω, ±30 kV Kontakt, ±30 kV Luft
• EFT, IEC 61000-4-4, 80 A (tP=5/50 ns)
• Blitzeinschläge, 8 A (8/20 μs gemäß IEC 61000-4-5 2. Auflage)
• Geringe Kapazität von 1 pF (TYP) pro I/O
• Geringer Leckstrom von 0,01 μA (TYP) bei 5 V
• µDFN-Einheit mit kleinem Formfaktor (JEDEC MO-229) bietet Durchfluss-Routing zur Vereinfachung des PCB-Layouts.
• AEC-Q101-qualifiziert
• Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL-1)
• Halogenfrei, bleifrei und RoHS-konform
• PPAP-fähig
Märkte/Anwendungen:
• Kfz-Elektronik
• LCD- und Plasma-Fernseher
• Externe Speicher
• DVD-/Blu-ray-Player
• Set-Top-Boxen
• Smartphones
• Ultrabooks/Notebooks
• Digitalkameras
• Mobile medizinische Geräte
• Tragbare Technologie