Probenvorbereitungssystem EM RES102

Probenvorbereitungssystem - EM RES102 - Leica Microsystems GmbH
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Beschreibung

Proben elektronentransparent dünnen, Probenoberflächen reinigen und polieren sowie Böschungsätzen und Kontrastverstärken können Sie höchst flexibel in der Leica EM RES102. Dieses einzigartige Ionenstrahl-Ätzsystem vereinigt die Vorbereitung von TEM, REM und LM Proben in nur einem Gerät. Eine grosse Auswahl an Probenhaltern erlaubt eine Vielfalt verschiedener Anwendungen. Zusätzlich zum Hochenergie-Ionenstrahlätzen kann die Leica EM RES102 auch für die sehr schonende Probenbearbeitung unter Anwendung niedriger Ionenenergie verwendet werden.

Kataloge

Leica EM TXP
Leica EM TXP
10 Seiten

Messen

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Control 2025
Control 2025

6-09 Mai 2025 Stuttgart (Deutschland) Halle 9 - Stand 9508

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    EPHJ

    3-06 Juni 2025 Geneva (Schweiz)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.