Polymer-Probenvorbereitungssystem EM TIC 3X
für SEM

Polymer-Probenvorbereitungssystem - EM TIC 3X - Leica Microsystems GmbH - für SEM
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Eigenschaften

Anwendung
Polymer, für SEM

Beschreibung

Die aktualisierte Version des EM TIC 3X kombiniert – getreu unserem Motto ‘mit dem Anwender, für den Anwender’ – Leistung und Flexibilität in praxisrelevanter Weise. Die verdoppelte Ätzrate des neuesten EM TIC 3X lässt sich mit fünf verschiedenen, für unterschiedliche Anforderungen konzipierten Objekttischen noch weiter optimieren.

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

INNOTEQ

11-14 März 2025 Bern (Schweiz) Halle 3.2 - Stand A09

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    Control 2025
    Control 2025

    6-09 Mai 2025 Stuttgart (Deutschland) Halle 9 - Stand 9508

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.