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Polymer-Probenvorbereitungssystem EM TIC 3Xfür SEM
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Eigenschaften
- Anwendung
- Polymer, für SEM
Beschreibung
Die aktualisierte Version des EM TIC 3X kombiniert – getreu unserem Motto ‘mit dem Anwender, für den Anwender’ – Leistung und Flexibilität in praxisrelevanter Weise.
Die verdoppelte Ätzrate des neuesten EM TIC 3X lässt sich mit fünf verschiedenen, für unterschiedliche Anforderungen konzipierten Objekttischen noch weiter optimieren.
Kataloge
Leica EM TIC 3X
16 Seiten
Leica EM AFS2
8 Seiten
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EM Probenvorbereitung
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.