Inspektionssysteme für die schnelle Inspektion verdeckter Lötstellen auf großen Leiterplatten
Vielseitig einsetzbar. Entwickelt für optische Inspektion und digitale Bildaufnahme - einschließlich Messung von Lötstellen an BGAs und anderen SMT-Bauteilen. Das Anwendungsgebiet umfasst die visuelle Inspektion von Bauteilen auf Leiterplatten in der SMT oder THT im Allgemeinen, aber auch die visuelle Inspektion von LP-Flächen oder Lotpastendrucken.
• Inspektionssystem mit zwei Schnellwechselobjektiven:
• 90° BGA-Optik (ca. 280 µm Spaltmaß)
• 0° Makrozoom-Aufsichtsoptik
• Schnelle Inspektion verdeckter Lötstellen
• Integrierte, dimmbare LED-Beleuchtung
• N-MOS-Farbkamera 5 Megapixel, mit USB-Anschluss
• Zusätzliches LED-Faserlicht oder LED-Lichtquelle mit Schwanenhals und Lichtfächer
• Ideal für stationäre Inspektion
• Inklusive Ersa ImageDoc v3 Inspektionssoftware (Basisversion)
Hohe Flexbilität und Geschwindigkeit durch handgeführtes Inspizieren von BGA, µBGA, CSP, FlipChip, CGA und Durchstieg bei THT-Anschlüssen. Ermöglicht Bewertung von Fersenfüllungen bei QFP, SOIC und anderen Bauteilen mit Gull-Wing-Anschluss, Benetzungslänge und innere Benetzung bei PLCC und Bauteilen mit J-Anschlüssen.