RAPID™ MEM stellt fortschrittliche Prozessfunktionen, Echtzeitüberwachung und Diagnose vor, um die beste Qualität und effiziente Montage für leistungsstarke und zuverlässige Halbleiteranwendungen zu gewährleisten.
Hauptmerkmale:
Prozess- und Leistungsüberwachung in Echtzeit
Echtzeit-Überwachung des Gerätezustandes
Erweiterte Datenanalyse und Rückverfolgbarkeit
Prädiktive Instandhaltungsüberwachung und -analyse
Erkennung & verbesserte Post-Bond Inspektion
Neueste reaktionsbasierte Prozesse
- ProAu-2, ProAg-2, ProAg-2
- PSP-Ag
- ProOverhang
- Multi-Stich-Bonden
Bondable Area Konfigurationen:
RAPID MEM LA (Großfläche)
SCHNELLES MEM ELA (Extended Large Area)
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