Eine neuartige Optik ermöglicht eine Mehrfachreflektion (Multi Path) an der Messzelle und damit eine Verlängerung der optischen Schichtdicke, wobei das Rotationsvermögen und somit die Nachweisgrenze einer chiralen Substanz direkt proportional zur Schichtdicke ist.
Die Messwellenlänge liegt im Nachweis-Optimum bei 430 nm. Eine „Zero Drift“ Elektronik sorgt für eine kurze Aufwärmphase und reproduzierbare Messergebnisse.
Die Bedienung erfolgt über einen Bildschirm (touch screen) mit übersichtlicher Menueführung. Eine Optimierung der Parameter ist schnell durchgeführt und erfordert keine weiteren Vorkenntnisse.
Key features
Hohe Empfindlichkeit
Validiert Peaks als (+) und (-)
Findet Enantiomerenpaare