Die Candela 7100 Serie bietet fortschrittliche Fehlererkennung und Klassifizierung für Festplattensubstrate und -medien. Die auf der produktionserprobten Candela-Produktlinie aufbauenden HDD-Fehlererkennungs- und Klassifizierungssysteme der Serie 7100 unterstützen Hersteller bei der Erkennung und Klassifizierung kritischer Submikrometer-Defekte wie Mikropits, Unebenheiten, Partikel und vergrabene Defekte, um die Ausbeute zu maximieren und die Gesamtkosten der Prüfung zu senken.
Das fortschrittliche Fehlererkennungs- und Klassifizierungssystem der Serie Candela 7100 wurde speziell für Festplattensubstrate und -medien entwickelt. Ein Hochleistungs-Doppelwellenlängenlaser ist für die aktuellen DOI-Herausforderungen (Defect of Interest) optimiert, und Mehrkanal-Streudetektoren bieten eine erhöhte Empfindlichkeit für die Klassifizierung von Pits, Unebenheiten, Partikeln und vergrabenen Defekten im Submikrometerbereich auf einer ganzen Reihe von Substraten. Die Leistungsfähigkeit und Stabilität des Defektinspektors der Serie 7100 gewährleistet, dass eine Plattform für mehrere Anwendungspunkte der Prozesskontrolle verwendet werden kann, wodurch die Abhängigkeit von Werkzeugen und Methoden wie Rasterkraft-, Rasterelektronen- und Transmissionselektronenmikroskopen zur Untersuchung von Defekten und zur Identifizierung der Grundursache verringert wird.
Erkennt und klassifiziert HDD-Submikrometer-Pits, Unebenheiten, Partikel und vergrabene Defekte auf Metall und Glas, Substraten und Medien mit vollständigen Defektkarten
Bietet schnellere Ergebnisse durch vollständige Festplattenkarten mit klassifizierten Defekten und verwertbarer Datenausgabe
Reduziert die Abhängigkeit von Offline-Prüftechnologien (AFM, SEM, TEM usw.), was zu geringeren Gesamtbetriebskosten führt
Verfügbar in manueller (7110) oder vollautomatischer (7140) Konfiguration
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