Das CellaCrystal PX 44 ist für die optische Temperaturmessung bei der Produktion von Si- und SiC-Kristallen entwickelt worden. Die Kalibrierung ist speziell auf den Züchtungsprozess abgestimmt. Dank der hybriden Signalauswertung mit einer konstant hohen Auflösung von < 0.1 K über den gesamten Messbereich und der sehr hohen Langzeitstabilität dank der Gleichlichtsensorik erfüllt das Gerät die hohen Anforderungen an die erforderliche Messgenauigkeit.
Besondere Merkmale:
Messbereich 750 bis 3000 °C
PX 44 AF 4 spezielle Kalibrierung für die Produktion von Kristallen aus Silizium
PX 44 AF 7 spezielle Kalibrierung für die Produktion von Siliziumkarbid
Hybride Signalauswertung für eine hohe messtechnische Auflösung
Hohe Langzeitstabilität durch minimale Eigenerwärmung
Fokussierbare Optik zur exakten Einstellung der Messentfernung
Serienmäßig: IO-Link-Schnittstelle und Analogausgang