Testsystem für Halbleiter S530 series

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Die heutigen Analog- und Leistungshalbleiter-Technologien, einschließlich GaN und SiC, erfordern parametrisches Testen, das die Messleistung maximiert, eine breite Produktpalette unterstützt und die Testkosten minimiert. Seit über 40 Jahren meistert Keithley diese und weitere wichtige Herausforderungen in kritischen Anwendungen wie Prozessintegration, Überwachung der Prozesssteuerung, Die-Sortierung für die Produktion (z. B. Wafer-Akzeptanz oder "Known Good Die"-Prüfungen) und Zuverlässigkeit. Die parametrischen Testsysteme der Serie S530 von Keithley mit KTE 7-Software bieten schnelle, vollständig flexible Konfigurationen, die mit neuen Anwendungen und sich ändernden Anforderungen mithalten können. Das S530 ermöglicht das Prüfen bei bis zu 200 V, und das S530-HV ermöglicht das Prüfen bei bis zu 1100 V an jedem Pin, wodurch der Durchsatz im Vergleich zu Konkurrenzlösungen um bis zu 50 % gesteigert werden kann. Ein neues Merkmal der KTE 7 ist ein optionaler Systemtestkopf, der Folgendes ermöglicht: ein direktes Andocken an einen Tastkopf und die Wiederverwendung älterer Prüfkarten; eine Kalibrierung auf Systemebene nach ISO-17025 am Pin, welche die Anforderungen der Automobilnorm IATF-16949 unterstützt; und einen einfachen und reibungslosen Migrationspfad von älteren S600- und S400-Systemen mit vollständiger Datenkorrelation und Geschwindigkeitsverbesserungen.