Die leistungsstarken SMU-Geräte der SourceMeter-Serie 2650 sind speziell für die Charakterisierung und Prüfung von Hochspannungs-/Hochstromelektronik und Leistungshalbleitern konstruiert, wie etwa Dioden, FETs und IGBTs, HB-LEDs, DC-DC-Wandler, Batterien, Solarzellen und sonstigen Hochleistungsmaterialien, Komponenten, Modulen und Baugruppen. Mit ihnen wird beispiellose Leistung, Präzision, Geschwindigkeit, Flexibilität und Bedienerfreundlichkeit erreicht, wodurch sich die Produktivität in F&E, bei Produktionstests und in Umgebungen mit hohen Anforderungen an die Zuverlässigkeit verbessern lässt. Es sind zwei Geräte erhältlich, mit denen eine Impulsstärke von bis zu 3000 V bzw. bis zu 2000 W möglich ist.
Hochflexibel, Vier-Quadranten-Spannungsquelle und -Stromquelle/Last verbunden mit Präzisionsmessgeräten für Spannung und Strom
Bietet die beste Leistungsfähigkeit ihrer Klasse mit sechsstelliger Auflösung.
Quelle oder Senke (2651A) bis zu 2.000 Watt gepulste Leistung (±40 V, ±50 A) oder bis zu 200 W DC-Leistung (±10 V bei ±20 A, ±20 V bei ±10 A, ±40 V bei ±5 A); einfache Verbindung von zwei Einheiten (in Reihe oder parallel) für Lösungen bis zu ±100 A oder ±80 V
Unterstützt die Charakterisierung/das Testen von Leistungshalbleitern, HBLEDs, optischen Geräten, Solarzellen und GaN, SiC sowie anderen Verbundmaterialien und Geräten. Anwendungsbereiche sind die Charakterisierung der Halbleiter-Sperrschichttemperatur, Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisions-Digitalisierung, Elektromigrationsuntersuchungen sowie Hochstrom- und Hochleistungskomponentenprüfungen.