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EDX-Mikroskop PSEzur Materialuntersuchuingkorrelativ
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Eigenschaften
- Typ
- EDX
- Anwendungsbereich
- zur Materialuntersuchuing
- Weitere Eigenschaften
- korrelativ
Beschreibung
Korrelative Mikroskopie: Kombination von optischen und SEM-Daten
SEM mit EDX: JOMESA PSE
-Liest Partikelinformationen aus der Datenbank
schnelle SEM-EDX-Analyse von ausgewählten Partikeln
-Wahlweise: Vollständiger Scan oder Scan aller optischen Partikel
-speichert Ergebnisse in der Datenbank
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.