EDX-Mikroskop PSE
zur Materialuntersuchuingkorrelativ

EDX-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
EDX
Anwendungsbereich
zur Materialuntersuchuing
Weitere Eigenschaften
korrelativ

Beschreibung

Korrelative Mikroskopie: Kombination von optischen und SEM-Daten SEM mit EDX: JOMESA PSE -Liest Partikelinformationen aus der Datenbank schnelle SEM-EDX-Analyse von ausgewählten Partikeln -Wahlweise: Vollständiger Scan oder Scan aller optischen Partikel -speichert Ergebnisse in der Datenbank

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.