Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800 series

für Analyse3Dbodenstehend

Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische Aufnahmen, REM-Abbildungen und die Elementcharakterisierung mittels EDX in einem einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des hohen Probenstromes zugleich für sämtliche analytischen Fragestellungen. Damit deckt das JSM-IT800 gleichermaßen einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht den einfachen Einstieg in die Welt der höchstauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie. Merkmale • Höchstauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse (HL) oder Super-Hybrid-Objektivlinse (SHL). • Probenstrom ≥ 300 nA (SHL ≥ 500 nA): für extrem schnelle Analytik. • In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und Doppel-Kondensorlinsen-System bieten höchste Stabilität und einen kontinuierlich regelbaren Strom. • Die neue NeoEngine und verbesserte Autofunktionen ermöglichen schnelle Übergänge zwischen unterschiedlichen Betriebszuständen. • JEOL ZeroMag-Funktion für stufenlosen Übergang zwischen lichtoptischer und REM-Abbildung für einfachste Probennavigation. • Neue Rückstreuelektronendetektoren ermöglichen die maßgeschneiderte, applikationsoptimierte Konfiguration des Systems, bspw. mit einem flexiblen 6-Segment-Detektor oder einem hochempfindlichen Szintillator-Detektor.