Elektronenmikroskop JEM-ARM300F2

für Analysebodenstehendmit kalter Feldemission

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht die neueste Generation der JEOL Cold-FEG-Systeme eine für kalte Feldemitter extrem stabile Emission über viele Stunden hinweg. Daneben reduziert das neue „Cover-in-Cover“-Konzept externe Einflüsse wie Temperatur- bzw. Luftdruckschwankungen oder Raumschall. Das High-End-TEM verfügt über eigens von JEOL entwickelte Dodekapol-Cs-Korrektoren, die mittels der eigenen Korrektor-Tuning-Einheit „Cosmo“ bis zur 3. Ordnung inkl. 4-fachem Astigmatismus automatisch korrigiert werden. So erreicht System eine STEM-Auflösung von weniger als 53 pm. Je nach Anwendung kann das GRAND ARM 2 für die ultrahochauflösende Bildgebung mit großen EDX-Detektoren ausgestattet oder für maximale analytische Leistungsfähigkeit und in-situ-Analysen maßgeschneidert werden. Merkmale 1. Ultrahochauflösende Bildgebung Dank des patentierten Cs-Korrektors wird im Rasterbetrieb (STEM) bei einer Beschleunigungsspannung von 300 kV eine Auflösung von 53 pm erreicht. 2. Kalte Hochleistungs-Feldemissionsquelle mit großer Helligkeit und geringer Energiedispersion Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke Strahl ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und schnelle Analyse.