Rasterelektronenmikroskop JSM-IT710HR

für AnalyseSekundärelektronenhochauflösend

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung. Das moderne REM setzt durch seine intuitive Nutzeroberfläche und das vollständig integrierte JEOL-EDX-System neue Maßstäbe in puncto Bedienbarkeit in der Feldemitter-Klasse. Das JSM-IT710HR vereint mühelos Höchstauflösung und Nutzerkomfort wie bei einem Table-Top-REM. Zur einfachen Bedienung und Orientierung tragen nicht nur der stufenlose Übergang zwischen licht-optischem und REM-Bild durch einfaches Zoomen bei. Als erstes FEG-REM ermöglicht es Nutzern 3D-Abbildungen der Probenoberfläche mit überlagerten chemischen Informationen in Echtzeit darzustellen. Merkmale Das neue JSM-IT700HR ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL. Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung. • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "• Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je. • Live EDX ermöglicht Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme – als Spektrum oder als Mapping • Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten. • Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme. • Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.