FIB/SEM-Mikroskop CRYO-FIB-SEM

IndustrieFluoreszenz

Dieses CRYO-FIB-SEM-System verfügt über eine Flüssigstickstoff-Kühlstufe und einen kryogekühlten Probentransfermechanismus für gefrorene Proben, der die Präparation von TEM-Proben wie Biopolymeren ermöglicht. Der Probentransfermechanismus verfügt über eine integrierte Sputterbeschichtungsfunktion. Daher kann dieses CRYO-FIB-SEM-System allein eine Reihe von Prozessen zur Herstellung von TEM-Proben aus gefrorenen Proben durchführen, einschließlich Leitfähigkeitsbeschichtung, Schutzfilmbildung und FIB-Bearbeitung. Darüber hinaus wird durch die Verwendung der CRYO ARM™-Kassette von JEOL der direkte Probentransfer zum CRYO ARM™ nach der TEM-Probenpräparation einfacher. Merkmale - Kryo-Probentransfer mit CRYO ARM™ Kartusche Nach dem Anbringen eines Probengitters an der Kartusche ist es nicht mehr notwendig, das Probengitter mit einer Pinzette zu handhaben, so dass ein Probentransfer mit hohem Durchsatz durchgeführt werden kann. - Hochstabile Kühlstufe Der Wärmeleitfähigkeits-Kühltisch reduziert die durch den Kühlprozess verursachte Tischdrift und Vibration und ermöglicht eine stabile TEM-Probenpräparation. - JEOLs einzigartiges Anti-Kontaminationsgerät Mit dieser neu entwickelten Anti-Kontaminationsvorrichtung wird die Eisverschmutzung in der Probenkammer reduziert. Selbst bei längerer Präparation von großen Probenmengen unterdrückt die Vorrichtung die Eiskontamination in vollem Umfang. Cryo CLEM Arbeitsablauf Ein Kryo-CLEM-Arbeitsablauf unter Verwendung der CRYO ARM™-Kartusche kann mit einem Kryostativ von Linkam Scientific Instruments* und einem Fluoreszenzmikroskop von Nikon Solutions* aufgebaut werden. Die Tischkoordinaten der einzelnen Geräte können miteinander verknüpft werden, so dass die Ausrichtung und Position der Probe während des Probentransfers zwischen den Geräten stets identifiziert werden kann.