Rasterelektronenmikroskop JCM-7000

für Analyse3DTisch

JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop Noch nie war der Einstieg in die Welt der Elektronenmikroskopie so einfach: Das Desktop-REM JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. Es vereint in einzigartiger Weise REM-Abbildungen, rekonstruierte 3D-Oberflächen sowie EDX-Elementanalysen in Echtzeit in einer intuitiven Nutzeroberfläche. Eine große Probenkammer, hohe Auflösung und ein zuschaltbarer Niedervakuummodus für nichtleitende Proben machen das Desktop-REM zu einem mobilen Allround-Talent. Merkmale Live 3D“: REM-Bild und rekonstruiertes 3D-Oberflächenbild in Echtzeit. Diese neue Funktion ermöglicht es, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen. Vollwertige Elektronenoptik: Vergrößerung bis x100.000 und einfacher Kathodenaustausch durch vorzentrierte Wolfram-Filamente. Die automatische Einstellung der Betriebsparameter basierend auf Probentyp und Fragestellung bietet hochwertige Ergebnisse und verbessert die Produktivität. JEOL ZeroMag-Funktion: Stufenloser Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation. Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten. Voll-automatisierte Aufnahmen von REM-Abbildungen und Elementverteilungsbildern für hochaufgelöste Übersichtsmontagen. Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein auf Knopfdruck zuschaltbares Niedervakuumsystem zur Verfügung. Große Kammer für Proben bis 80 mm Durchmesser und 50 mm Höhe.