Rasterelektronenmikroskop JSM-IT200

für AnalyseCCDautomatisch

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Das JEOL JSM-IT200 ist die neueste Entwicklung in der bewährten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT200 setzt die seit 50 Jahren bestehende technologische Führungsrolle von JEOL auf dem REM-Markt fort und stellt dabei ein einfach zu bedienendes und vielseitig einsetzbares REM in ergonomischer Kompaktausführung dar. Mit seinen erweiterten EDS-Analysefunktionen ist das InTouchScope ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“, das individuelle Laboranforderungen zu einem außergewöhnlichen Preis-Leistungs-Verhältnis erfüllt. Es verfügt über höchste Bildauflösung und kontinuierlich einstellbare Beschleunigungsspannungen sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuum-Modus. Durch die intuitive Bedienung des JSM-IT200 lassen sich Arbeitsabläufe einfach optimieren. Die Steuerung kann über Maus und Tastatur oder auf Wunsch auch mittels Bedienpanel oder Touchscreen erfolgen. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen zu einfachen Aufgaben. Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT200 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDS-System mit Live-Analyse umfasst u.a. spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder. Ebenfalls zur beliebten InTouchScope-Baureihe von JEOL gehört das JSM-IT500 mit großer Probenkammer. Dieses ist entweder mit Wolfram-, LaB6 oder High-Brightness-Kathode verfügbar.