Oberflächen-Rauheitsmesser Waveline W15
kompaktschnurlos

Oberflächen-Rauheitsmesser - Waveline W15 - JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH - kompakt / schnurlos
Oberflächen-Rauheitsmesser - Waveline W15 - JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH - kompakt / schnurlos
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Eigenschaften

Typ
Oberflächen
Konfigurierung
kompakt
Merkmal
schnurlos

Beschreibung

Mit dem kompakten Waveline W15-Set messen Sie die Oberflächenrauheit flexibel am gewünschten Einsatzort. Der handliche Vorschub liegt dank des integrierten Auflageprismas sicher auf dem Werkstück und sorgt für präzise Messungen. Systemmerkmale Waveline W15-Set - Praktisch: Handlicher Vorschub mit integriertem Startknopf zur Einhandbedienung - Kabellos: Datenübertragung über Bluetooth®-Schnittstelle - Hochpräzise: Alle gängigen Rauheitskenngrößen exakt messbar - Normgerecht: Erfüllt die Vorgaben nationaler und internationaler Normen, inklusive DIN EN ISO 21920 - Vielseitig: Messen in allen Positionen und Lagen, auch in Überkopfposition, vertikal oder in Querabtastung - Professionelle Auswertung: Mess- und Auswertesoftware Evovis Mobile Standard

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.