Die Waveline-Messsysteme von Jenoptik setzen Sie zur Rauheits- oder Konturenmessung ein. Gleichzeitig bieten wir Ihnen Systeme an, die beide Technologien kombinieren. Die Messsysteme Waveline T8000, Surfscan und Nanoscan lassen sich mit einer 3D-Analyse-Software für die Topografie erweitern. Mithilfe der Software Waveline Map stellen Sie die Oberflächenbeschaffenheit von Werkstücken grafisch dar und werten diese aus.
Waveline Map ist intuitiv aufgebaut und lässt sich einfach bedienen. Messdaten werden zum Beispiel im Hinblick auf Ausrichtung, Filterung und Formentfernung vorverarbeitet. Sobald sich die Auswerteschritte ändern, erfolgen automatische Neuberechnungen. Umfangreiche metrologische und wissenschaftliche Filtermöglichkeiten stehen Ihnen zur Verfügung.
Die 3D-Analyse-Software erhalten Sie in den drei Ausführungen Basic, Expert und Premium. Dabei erfüllen die Expert- und die Premium-Variante die ISO/TS 25178-Norm für 3D-Kenngrößen.
Für die Topografiemessungen ist zusätzlich zur Software ein Y-Positioniertisch erforderlich. Dieser führt die notwendige Werkstückbewegung aus. Die Tische sind mit Bauteilen bis zu 30 kg belastbar und arbeiten mit einer Führungsgenauigkeit von ca. 5 μm.
Vorteile
• Flexibel: Bei Bedarf an Messplätzen zur Rauheitsmessung einsetzen.
• Einfach: Intuitive Software ist leicht zu bedienen.
• Schnell: automatische Neuberechnungen nach Änderung von Auswerteschritten.
• Modular: drei Ausführungen, die aufeinander aufbauen.
Anwendungen
• Forschung & Entwicklung: tribologische Untersuchungen zur Optimierung von Oberflächenfunktionen.