Power-Transistor-Testfassungen
Kombination mit Sammelschienen
Niedrige Induktivität
Hochstrom-, Hochspannungstyp
Hochtemperatur-, Hochspannungstyp
Niedrige Induktivität
Breite Anschlüsse für Drain und Source (Kollektor und Emitter) sorgen für niedrige Induktivität und verbessern die Signalcharakteristik.
Die Fassungen sind für den Einsatz bei hohen Strömen, hoher Spannungsfestigkeit und in Hochtemperaturumgebungen geeignet.
Darüber hinaus unterstützen Produkte, die PEEK-Material als Isolator verwenden, eine geringe Ausgasung.
Akzeptable Gehäuse: TO-3P, TO-247, TO-264.
Verwendung eines unserer Standard-Testleitungen
**Es gibt Erfahrungen mit einer Verwendung bei DC5000V. Bitte kontaktieren Sie uns.