Das hervorragende Signal-Rausch-Verhältnis (35.000:1) und die Auflösung (0,4 cm-1) bieten Funktionen von der Ausbildung und Routineanalyse bis hin zu High-End-Forschungsanwendungen.
Der Standard-Arbeitsbereich (7.800 bis 350 cm-1) kann auf NIR (15.000 bis 2.200 cm-1) oder FIR (5.000 bis 220 cm-1) erweitert werden und durch den Einsatz von zwei gleichzeitig montierten Detektoren kann maximale Flexibilität erreicht werden.
Beim FTIR-4700LE können Infrarotmikroskope einfach angeschlossen werden, einschließlich des kompakten IRT-1000 Probenraum-IR-Mikroskops.
Möglichkeit des Zugriffs auf Rohspektrum und Spektrum mit Entfernung von CO2 und Feuchtigkeit für eine umfassende Auswertung der gewonnenen Daten.
Abgedichtete Struktur des Interferometers für höchste thermische Stabilität dank des Power-Management-Systems, das das CLS auf niedrigem Niveau hält, um die Lebensdauer der optischen Komponenten zu erhöhen und das Interferometer frei von Feuchtigkeit zu halten
IQ Zubehörfunktion zur automatischen Erkennung von Zubehör, das in den Probenraum eingesetzt wird.
Plattformübergreifendes Softwarepaket, SPECTRA MANAGER II, zur Steuerung der JASCO-spektroskopischen Instrumentierung, aufrüstbar vor Ort auf die CFR-Version.
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