Das Promis-Gerät ist ein mehrfrequentes, mehrteiliges 3-Komponenten-EM-System vom Typ Slingram zur Sondierung und Profilierung des Bodens. Dieses System verfügt über eine Senderschleife zur Erzeugung eines primären Magnetfeldes, das Wirbelströme in leitfähigen Materialien induziert. Diese Wirbelströme erzeugen ein sekundäres Magnetfeld, das mit der Empfängerschleife gemessen wird. Dieses System misst die gleichphasigen und die gegenphasigen Komponenten des sekundären Magnetfeldes.
Die Länge zwischen Empfänger- und Senderschleife liegt zwischen 20 m und 400 m für Standardanwendungen. Dieses System erlaubt es, mit 10 Frequenzen im Bereich von 110 Hz bis 56 kHz zu arbeiten. Die Eindringtiefe ist abhängig vom Abstand und von der Frequenz. Sie wird üblicherweise in der Größenordnung des halben Abstandes angesetzt. Eine Profilierung kann durchgeführt werden, indem sowohl der Sender als auch der Empfänger zur nächsten Station bewegt werden.
Traditionelle HLEM-Schlingensysteme messen nur die vertikale Komponente des Magnetfeldes (Hz). Da das Verhältnis von sekundärem zu primärem Magnetfeld mit der Leitfähigkeit des Bodens verknüpft ist, ermöglichen sie die Lokalisierung von leitfähigen Strukturen, die ein Profil durchschneiden. Die 3 Komponenten, die mit dem PROMIS-System gemessen werden, erlauben es, eine Information über die Richtung (Streichen) der Struktur zu geben (weil das Magnetfeld senkrecht zu den Wirbelstromrichtungen bleibt).
Mit dem Promis-System wird die Produktivität durch eine automatische Verarbeitung erhöht (die Messung wird automatisch für den Satz von Frequenzen durchgeführt, ohne dass eine Kommunikation zwischen den beiden Bedienern erforderlich ist).
---