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Temperaturüberwachungssystem E-LIT
Messfür die ElektronikInfrarotkamera

Temperaturüberwachungssystem
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Eigenschaften

Typ
Temperatur
Anwendungsbereich
Mess
Einsatzbereich
für die Elektronik
Technologie
Infrarotkamera
Konfigurierung
modular
Weitere Eigenschaften
Online, automatisch, Hochleistung

Beschreibung

Elek­tronik- und Halb­lei­ter­mo­dul­prü­fung E-LIT Modularer automatisierter Prüfstand • Analyse von Elektronik- und Halbleiterbauelementen • Modularer Messplatz für Online Lock-In-Messungen • Erkennung von thermischen Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich • Lokalisierung von Defekten in mehrlagigen Leiterplatten und Multi-Chip-Modulen • Nutzung von Thermografiesystemen mit gekühlten und ungekühlten Detektoren • Bediensoftware IRBIS® 3 active mit umfangreichen Analysemöglichkeiten Lock-In Test­mes­sung in Echt­zeit mit E-LIT von InfraTec E-LIT – Lock-In Thermografie für die Elektronik ist ein automatisiertes Prüfsystem innerhalb der zerstörungsfreien Prüfung. Es erlaubt eine berührungslose Fehlerinspektion an Halbleitermaterialien, elektronischen Bauteilen und elektronischen Schaltungen. Ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste können mittels des speziellen Lock-In-Verfahrens und einer leistungsfähigen Thermografiekamera in kürzesten Prüfzeiten detektiert werden. Die elektrischen Anregungseinheiten werden aus dem System parametriert und direkt synchron angesteuert. Sogar Fehler, die lediglich mK- oder μK-Abweichungen hervorrufen, können detektiert werden.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.