Temperaturüberwachungssystem E-LIT

Messfür die ElektronikInfrarotkamera

Elek­tronik- und Halb­lei­ter­mo­dul­prü­fung E-LIT Modularer automatisierter Prüfstand • Analyse von Elektronik- und Halbleiterbauelementen • Modularer Messplatz für Online Lock-In-Messungen • Erkennung von thermischen Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich • Lokalisierung von Defekten in mehrlagigen Leiterplatten und Multi-Chip-Modulen • Nutzung von Thermografiesystemen mit gekühlten und ungekühlten Detektoren • Bediensoftware IRBIS® 3 active mit umfangreichen Analysemöglichkeiten Lock-In Test­mes­sung in Echt­zeit mit E-LIT von InfraTec E-LIT – Lock-In Thermografie für die Elektronik ist ein automatisiertes Prüfsystem innerhalb der zerstörungsfreien Prüfung. Es erlaubt eine berührungslose Fehlerinspektion an Halbleitermaterialien, elektronischen Bauteilen und elektronischen Schaltungen. Ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste können mittels des speziellen Lock-In-Verfahrens und einer leistungsfähigen Thermografiekamera in kürzesten Prüfzeiten detektiert werden. Die elektrischen Anregungseinheiten werden aus dem System parametriert und direkt synchron angesteuert. Sogar Fehler, die lediglich mK- oder μK-Abweichungen hervorrufen, können detektiert werden.