MESO Metrologie-Lösung
Das MESO-Metrologiesystem ist eine Komplettlösung für viele Herausforderungen in der optischen Metrologie. Messungen in der Werkstatt gewährleisten Qualitätskontrollprüfungen und die Prozesskontrolle Ihrer Planoptiken direkt an der Fertigungslinie.
Ein einzigartiges Instrument ermöglicht die Messung bei verschiedenen Wellenlängen ohne chromatische Abberationen und die Charakterisierung des gesamten Spektrums Ihrer Optiken ohne Auflösungsverlust.
MESO™ ist vollgepackt mit Innovationen:
- LIFT-verbessertes, hochauflösendes Wavefront-Sensing
- POP - zum Patent angemeldetes Verfahren zur Prüfung von (dünnen) planparallelen Optiken
- Die proprietäre Spot Tracker™-Technologie ermöglicht die absolute Messung von Neigung und Wellenfront.
SCHLÜSSEL-EIGENSCHAFTEN
Unempfindlich gegen Vibrationen
Prüfung bei der Entwurfswellenlänge
Unempfindlich gegen Reflektionen von der Probenrückseite
ANWENDUNGEN
MESO ist das perfekte Testwerkzeug für die Kontrolle von:
Parallelen Optiken
Bildschirmen
Filtern, Dichroitiken
Spiegeln
Strahlenteiler
Fenster
Substrate
Eckwürfel
Kristalle
Stäbe, Scheiben
Glasplättchen
Bildschirme
Bearbeitete Oberflächen
Windschutzscheiben
Prismen
Große Linsen
Optische Systeme
Strahlaufweiter
sCHLÜSSELSPEZIFIKATIONEN des MESO-Metrologiesystems
Horizontale oder vertikale Integration
Optischer Zoom von 1,5'' (38,1mm) bis zu 6'' (152mm)
Prüfwellenlänge von 405 nm bis 820 nm
680 x 500 Phasenpunkte Auflösung
27us minimale Erfassungszeit
KEY SPECS
Touchscreen-Bedienung
Skriptgesteuerte Prüfverfahren führen den Benutzer durch alle Schritte
Automatisierte Steuerung von bis zu 4 eingebetteten Wellenlängen
Automatische Steuerung des Prüfdurchmessers
Vollständiger automatischer Prüfbericht
Einhaltung der ISO10110-Norm
Export von Multiformat-Daten
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