HHG, Synchrotron, EUV-FEL, Lithographie der neuen Generation
Das HASO EUV bietet unübertroffene Qualität, Präzision und Benutzerfreundlichkeit für die Charakterisierung, Justierung und Ausrichtung von Strahlen mit ultrakurzen Wellenlängen.
- HHG-, Synchrotron- und EUV-FEL-Strahljustierung und -Charakterisierung
- Spiegelausrichtung in Beamlines, Bender-Optimierung
- Charakterisierung der Stabilität
- Ausrichtung und Charakterisierung von Schwarzschild-Teleskopen
- Charakterisierung von Zonenplätzen
- Plasmaforschung
WAVEVIEW Metrologie-Software mit 150 Funktionen
+ Erweiterungen für PSF, MTF und Strehl-Verhältnis
+ Optionales SDK für Schnittstellen
WAVETUNE Software für adaptive Optik
+ Erweiterungen für AO-Anwendungen
+ Optionales SDK für die Anbindung an beliebige kundenspezifische Systeme
Windows10-kompatibel
---