Spektroskopischer Ellipsometer UVISEL Plus / UVISEL Plus In-Situ

Spektroskopisches Ellipsometer mit höchster Präzision für Forschung und Entwicklung Die Ellipsometer der UVISEL-Familie ermöglichen dank der einzigartigen Kombination aus modularem Aufbau und Leistungsfähigkeit die moderne Charakterisierung dünner Schichten, Oberflächen und Grenzflächen. Das auf Phasenmodulation beruhende UVISEL-Ellipsometer ist mit einer leistungsstarken Optik ausgestattet, mit der der Spektralbereich von 145 bis 2100 nm kontinuierlich abgetastet werden kann. Das System liefert über den gesamten Spektralbereich Daten höchster Qualität, die sich durch hohe Genauigkeit, optimale Auflösung und ein ausgezeichnetes Signal-Rausch-Verhältnis auszeichnen. UVISEL ist die optimale Lösung für die präzise Charakterisierung von Dünnschichtstrukturen in zahlreichen Anwendungsgebieten. Dazu gehören anspruchsvolle Forschungsanwendungen, Industrie- und QK-Analysen, Halbleiter, Displays, Fotovoltaik, optische Beschichtungen, Optoelektronik sowie biologische und chemische Anwendungen.