Die Raman-Technologie von HORIBA lässt sich einfach an Rastersondenmikroskope (SPM) koppeln. Die Plattform ermöglicht Rasterkraftmikroskopie (AFM), optische Nahfeldtechniken (SNOM, NSOM), Rastertunnelmikroskopie (STM) und konfokale optische Spektroskopie (Raman und Fluoreszenz Imaging) in einem vielseitigen Gerät, bereit für Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) oder kolokalisierte Messungen.
Die außergewöhnliche Langzeitstabilität und Geschwindigkeit unserer integrierten Raman-AFM-Plattform bringt zuverlässige Ergebnisse sowohl für kollokalisierte Messungen als auch für TERS Imaging. Eine einzigartige Plattform für gleichzeitige Messungen stellt sicher, dass die Bilder, die Sie erhalten, wirklich korreliert sind.
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