Rasterelektronenmikroskop SU series

Oberflächenrauheitfür Analysefür Forschungszwecke

Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung effizient nutzen. Das SU3900 ist mit einer großen Mehrzweck-Probenkammer ausgestattet, die die Beobachtung großer Proben ermöglicht. 1.Erheblich größere Probenkammer für übergroße und schwere Proben ■Robuster Tisch für Flexibilität bei Probengröße, -form und -gewicht - Die Probenwechselsequenz verhindert mögliche Schäden am System oder an der Probe. - Der Austausch der Proben erfolgt ohne Entlüftung der Probenkammer, was den Durchsatz erhöht. - Erhöhen Sie die Probenmanipulation mit dem Stage Free Mode*. - Das Chamber Scope erhöht die Sicherheit bei Tischbewegungen*. ■Vergrößerter Sichtbereich - REM MAP erweitert die Grenzen der Probennavigation - Integriertes Kameradisplay in der Kammer - Einfaches Navigieren im gesamten Sichtbereich - Detektororientierte Rotation 2.Entwicklung des Marktes - Verbesserte automatische Funktionen für Bediener aller Qualifikationsstufen vielfältige Betriebsmodi ■ Automatikfunktionen für Bediener aller Qualifikationsstufen Verbesserte automatische Algorithmen - 3x schneller (im Vergleich zum Hitachi Modell S-3700N) Verbesserte Autofokus-Funktion Merkmale der von uns entwickelten Intelligent Filament Technology (IFT): ■Multi Zigzag ermöglicht eine großflächige Beobachtung über mehrere Bereiche hinweg. ■Report Creator erstellt Berichte über die erfassten Daten. 3.Integrierte Lösungen für verschiedene Anwendungen eine Vielzahl von Zubehörteilen kann an jedem der 20 Anschlüsse der innovativen SU3900-Probenkammer angebracht werden. ■SEM/EDS-Integrationssystem*