Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SU7000
für AnalyseBF-STEMDF-STEM

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Analyse / BF-STEM / DF-STEM
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Analyse / BF-STEM / DF-STEM
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Feldemissions-Rasterelektronen
Anwendungsbereich
für Analyse
Beobachtungstechnik
BF-STEM, DF-STEM, In-Situ
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
Schottky-Feldemission
Detektortyp
Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen
Weitere Eigenschaften
für die Nanotechnik, für simultane Erfassung, ultrahochauflösend
Vergrößerung

Max: 2.000.000 unit

Min: 20 unit

Räumliche Auflösung

0,8 nm, 0,9 nm

Beschreibung

Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, Erwärmung/Kühlung, Sondierung, Mikrotom-Serienschnitte usw.). Wie das SU8700 ist auch das SU7000 mit Hitachis universeller hochauflösender, feldfreier Elektronenoptik (bestehend aus Schottky-Emitter und Strahlverstärker) ausgestattet und verfügt über eine große analytische Probenkammer mit vollständig einfahrbarem Probentisch. Der Probentisch ist für Proben mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm, einer Höhe von 80 mm und einer Masse von 2 kg geeignet. Er verfügt über mehrere Kammerzugänge an der Probenkammer und der Kammertür. Eine integrierte Farbkamera ermöglicht eine einfache Navigation auf dem Tisch. Produktmerkmale: - Langlebiger und stabiler Hitachi-Schottky-Feldemitter mit bis zu 200nA Sondenstrom - Brillante Abbildungsleistung - ohne Gegenfeld auf der Probe - von 100V (10V Option) bis zu 30kV Beschleunigungsspannung - Großer analytischer Probenraum mit vielen Zugangsöffnungen für Zubehör und einem exzentrischen Probentisch für Proben bis zu 80 mm Höhe und 200 mm Durchmesser - Analytischer EDX-Arbeitsabstand von 6 mm ermöglicht gleichzeitiges oder schnell wechselndes hochauflösendes und analytisches Arbeiten

---

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

Control 2025
Control 2025

6-09 Mai 2025 Stuttgart (Deutschland)

  • Mehr Informationen
    K-Messe	2025
    K-Messe 2025

    8-15 Okt. 2025 Düsseldorf (Deutschland)

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.