Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SU7000

für AnalyseBF-STEMDF-STEM

Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und gleichzeitige Erfassung mehrerer Signale. Das SU7000 wurde entwickelt, um diese Aspekte und mehr zu erfüllen, indem es erweiterte Informationen für die vielfältigen Anforderungen im Bereich der Elektronenmikroskopie liefert. Erleben Sie die Nanowelt mit dem SU7000! Vielseitige Imaging-Fähigkeiten Das SU7000 zeichnet sich durch die schnelle Erfassung mehrerer Signale aus, um den umfangreichen Anforderungen der SEM gerecht zu werden, von der Abbildung eines großen Sichtfeldes bis hin zur Visualisierung von Sub-Nanometer-Strukturen und allem dazwischen. Die Integration neu entwickelter Elektronenoptiken und Detektionssysteme ermöglicht die effiziente gleichzeitige Erfassung mehrerer Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronensignale. Mehrkanalige Bildgebung Die Anzahl der am REM montierten Detektoren nimmt ständig zu, ebenso wie die Notwendigkeit, alle gesammelten Informationen effektiv darzustellen. Das SU7000 ist in der Lage, bis zu 6 Signale gleichzeitig zu verarbeiten, darzustellen und zu speichern, um die Informationserfassung zu maximieren. Große Vielfalt an Beobachtungstechniken Die Probenkammer und das Vakuumsystem sind optimiert für: - Große Probengröße - Probenmanipulation in verschiedenen Achsen - Variable Druckbedingungen - Kryogenische Bedingungen - Heizen und Kühlen in-situ Beobachtung