SEM-Mikroskop TM4000PlusIII

Messfür AnalyseTopographie

Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen verschiedenen Materialien abzubilden. Und das alles ohne zeitaufwändige Präparation (unbeschichtet). Bei Bedarf können Sie auch die chemische Zusammensetzung und die Elementverteilung bestimmen. Die einfache Navigation auf dem motorisierten X,Y-Probentisch erfolgt über eine automatisch generierte, zoombare Farbfotoübersicht. Diese kann vor Ort durch SEM-Fotoschnappschüsse ergänzt werden. Produktmerkmale: - EDX mit 30mm2 oder 60mm2 Sensorgröße voll integrierbar, sofortiges Umschalten zwischen Beobachtung und Elementanalyse - 4 Beschleunigungsspannungen 5 | 10 | 15 | 20kV mit je 5 Sondenstrommodi - Optische Farb-Navigationskamera - 3 Kammerdruckstufen - 4-Segment-Detektor für rückgestreute Elektronen - Sondenstrommessung und IFT-Funktionalität