Fokussiertes Ionen Strahl System NX9000

Fokussiertes Ionen Strahl System - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Beschreibung

In diesem einzigartigen System stehen die Ga-FIB- und FE-SEM-Säulen im rechten Winkel zueinander. Diese Konfiguration ist ideal für Anwendungen, bei denen große Volumina (biologisches Gewebe, Materialien mit großen Kornstrukturen, Halbleiterbauteile usw.) in 3D ohne Verzerrung und mit höchster Auflösung analysiert werden sollen, auch bei sehr breiten Sichtfeldern. die 3D-EBSD-Analyse kann auch mit einer vollständig stationären Probe durchgeführt werden, d. h. ohne Probenbewegung zwischen FIB-Schneiden und EBSD-Schichtanalyse.

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

Control 2025
Control 2025

6-09 Mai 2025 Stuttgart (Deutschland)

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    K-Messe	2025
    K-Messe 2025

    8-15 Okt. 2025 Düsseldorf (Deutschland)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.