Rasterelektronenmikroskop FlexSEM II

für Analysezur Materialuntersuchuingzur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse

FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei der Abbildungsleistung und Detektorvariabilität eingehen wollen. Produktmerkmale: - 4nm @ 20kV Hochauflösende Elektronenoptik mit Strahlenergien zwischen 300eV und 20keV - Hoch- und einstellbares Niedervakuum bis zu 100Pa - SE- und 4+1-Segment-Rückstreudetektor standardmäßig, Niedervakuum-SE optional (UVD); kann auch für Kathodolumineszenz- und STEM-Bildgebung, optische Farbnavigationskamera und Kammeroskop verwendet werden - 5-Achsen-Probentisch für Proben bis zu max. 153mm Durchmesser und 40mm Höhe