Rasterelektronenmikroskop FlexSEM 1000 II
für Analysezur Materialuntersuchuingzur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse

Rasterelektronenmikroskop - FlexSEM 1000 II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Analyse / zur Materialuntersuchuing / zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse
Rasterelektronenmikroskop - FlexSEM 1000 II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Analyse / zur Materialuntersuchuing / zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse
Rasterelektronenmikroskop - FlexSEM 1000 II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Analyse / zur Materialuntersuchuing / zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse - Bild - 2
Rasterelektronenmikroskop - FlexSEM 1000 II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Analyse / zur Materialuntersuchuing / zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse - Bild - 3
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Rasterelektronen
Anwendungsbereich
für Analyse, zur Materialuntersuchuing, zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse, Oberflächenrauheit, metallurgisches, für Qualitätskontrolle, für Materialforschung, Mehrzweck
Konfigurierung
Tisch, kompakt, bodenstehend
Elektronenquelle
thermionisch
Detektortyp
Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen
Weitere Eigenschaften
Rasterelektronen mit variablem Druck, hochauflösend, automatisiert, motorisiert, leicht zu befüllen, Hochpräzision, für flaches Muster, für polierte Proben, für Topographie, für die Nanotechnik, für die Asbesterkennung, mit hohem Kontrast, mit starker Vergrößerung
Vergrößerung

Min: 6 unit

Max: 800.000 unit

Räumliche Auflösung

4 nm, 5 nm, 15 nm

Beschreibung

Das FlexSEM 1000 II VP-SEM kombiniert innovative technologische Funktionen mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, um Anpassungsfähigkeit und Flexibilität in einem leistungsstarken, automatisierten und laborfreundlichen Paket zu bieten. Modernste Technologie und Schaltkreise sorgen für eine unübertroffene Bildgebungsleistung, selbst in Umgebungen mit variablem Druck - eine Funktion, die bisher nur in einem ausgewachsenen SEM verfügbar war. Dieses SEM wird mit sauberer Energie betrieben und ist damit ein wirtschaftliches Analysewerkzeug, das keine Kompromisse bei der Leistung eingeht. Das Rasterelektronenmikroskop FlexSEM 1000 II verfügt über neu entwickelte elektronenoptische und Signaldetektionssysteme, die eine beispiellose Abbildungs- und Analyseleistung in einer laborfreundlichen Konfiguration bieten. Das FlexSEM zeichnet sich durch ein anpassungsfähiges, teilbares und kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumen installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich biologischer und hochentwickelter Materialproben, und wird mit Sicherheit sowohl Ihre Analysen als auch Ihre Erwartungen erweitern. Kompakte & leistungsstarke Säule Erstklassige Auflösung in einem kompakten System. Das FlexSEM verfügt über ein neu entwickeltes elektrisches optisches System mit einem zuverlässigen, hochempfindlichen Detektor, der eine Bildgebung bei 4 nm ermöglicht. Hochauflösendes Bild Die Elektronenoptik umfasst eine Objektivlinse mit geringer Aberration und ein einzigartiges Gun-Bias-System, das einen hohen Emissionsstrom ermöglicht. Ultra-Variabler-Druck-Detektor Neuartige Niedervakuumtechnologien ermöglichen die Beobachtung der Oberfläche von nichtleitenden Proben ohne Vorbehandlung über den gesamten Druck- und Beschleunigungsspannungsbereich.

---

VIDEO

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von Hitachi High-Tech Europe GmbH anzeigen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.