Metallanalysator X-Strata920

für Qualitätskontrollefür ElektronikSchichtdicken

Mikrofokus RFA Geräte zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse liefern Ergebnisse in Sekunden - für die schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests. Schichtdickenmessung und Materialanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden. Proportionalzählersystem oder hochauflösender SDD Elementbereich: Ti - U oder Al - U (SDD) Geschlitzte Messkammer XY-Tisch Optionen: Standard, Motorisiert, Mini-Well, breiter Tisch Maximale Probengröße: 270 x 500 x 150 mm Maximale Anzahl von Kollimatoren: 6 Filter: 1 Kleinster Kollimator: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x10 mil) SmartLink Software