Schichtdickenanalysator FT160 Series
LegierungBenchtopRöntgenfluoreszenz

Schichtdickenanalysator - FT160 Series - Hitachi High-Tech Analytical Science - Legierung / Benchtop / Röntgenfluoreszenz
Schichtdickenanalysator - FT160 Series - Hitachi High-Tech Analytical Science - Legierung / Benchtop / Röntgenfluoreszenz
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Eigenschaften

Messobjekt
Legierung
Messgröße
Schichtdicken
Konfigurierung
Benchtop
Technologie
Röntgenfluoreszenz

Beschreibung

Mikrofokus RFA Geräte zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse liefern Ergebnisse in Sekunden - für die schnelle Qualitätskontrolle und Validierungstests. Schichtdickenmessung und Materialanalyse, basierend auf Röntgenfluoreszenz (RFA), ist eine verbreitete und in der Industrie erprobte Analysetechnik. Sie bietet einfache Bedienung, schnelle und zerstörungsfreie Analyse mit geringer oder keiner Probenvorbereitung. Feste und flüssige Stoffe können über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U in der Periodentabelle analysiert werden. Hochauflösender SDD Elementbereich: Al - U Geschlossene Messkammer XY-Tisch Optionen: motorisiert, wafer Drei Kammerkonfigurationen: FT160 – Standardkonfiguration mit Flexibilität zum Messen von Komponenten und Platinen FT160S - Kleinerer Probentisch für Komponenten von bis zu 300 x 245 mm FT160L – Größerer Probentisch für Leiterplatten von bis zu 600 x 600 mm Wahlweise Wolfram- oder Molybdän-Röntgenröhrenanode Filter: 5 Polykapillare Spotgröße < 30 µm RFA Controller Software

VIDEO

Kataloge

FT160
FT160
6 Seiten
FT200 Serie
FT200 Serie
12 Seiten
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.