Doppelbrechungs-Messsystem Exicor® PV-Si

Infrarotrobust

Bei der Herstellung von Si-Solarzellen bleiben Spannungen in den Si-Kristallen oft bis weit in den Herstellungsprozess hinein unerkannt. Hinds Instruments hat ein Instrument zur Messung der Spannungsdoppelbrechung entwickelt, mit dem Si-Ingots, entweder quadratisch oder im gewachsenen Zustand, gemessen werden können, bevor sie zu Wafern gesägt werden. Wenn dieses Instrument als Qualitätskontrollinstrument eingesetzt wird, können minderwertige Si-Rohlinge oder -Segmente identifiziert werden, bevor Kosten für die Weiterverarbeitung anfallen. Darüber hinaus bietet dieses Instrument den Züchtern von Si-Kristallen ein Werkzeug, mit dem sie die Qualität von Si-Rohlingen verbessern können, um dünnere Wafer mit geringem mechanischem Streuverlust herzustellen. Das Nahinfrarot-Exicor®-Doppelbrechungsmesssystem 500 Si Ingot von Hinds Instruments ist eine Erweiterung der Arbeitsplattform der Exicor-Doppelbrechungsmesssystem-Produktfamilie. Dieses System verwendet hochwertige, symmetrische photoelastische Modulatoren, einen 1550-nm-Laser und einen Ge-Avalanche-Fotodiodendetektor, um hochpräzise Doppelbrechungsmessungen für Si- Materialien zu ermöglichen, die sowohl in der Photovoltaik- als auch in der Halbleiterindustrie verwendet werden. Neben Si können auch Materialien wie Saphir, Siliziumkarbid, Zinkselenid und Cadmiumsulfid mit diesem System gemessen werden. Das Modell 500 Si Ingot ist robust und vielseitig und kann 500 mm lange Rohblöcke mit Durchmessern von bis zu 8 Zoll aufnehmen und messen. Das Systemdesign und die intuitive automatische Scansoftware machen dieses Produkt zur besten Wahl für Materialverbesserungen, F&E-Bemühungen und die tägliche Bewertung von Si-Rohblöcken sowie anderen High-Tech-Materialien. Merkmale: Unerreichte Empfindlichkeit bei der Messung von Doppelbrechung auf niedrigem Niveau Gleichzeitige Messung von Betrag und Winkel der Doppelbrechung Präzise Wiederholbarkeit