Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer XPS

zur Analyse

Ein Multitechnik-UHV-System für die Oberflächenforschung mit XPS, UPS, AES, SAM, ISS und LEIS, das auf der Hiden SIMS Workstation installiert ist Die Röntgenphotoelektronenspektroskopie ist eine äußerst komplementäre Technik, die Informationen über die atomare Zusammensetzung und den chemischen Bindungszustand liefert. XPS kann zur Quantifizierung hoher Konzentrationen verwendet werden und ist daher ideal für die Bereitstellung von Kalibrierungspunkten für die sehr viel empfindlichere SIMS-Technik. UHV Oberflächenwissenschaft Die zweiteilige Kammer der Hiden SIMS Workstation wurde speziell für die Montage des XPS-Upgrades unter Verwendung modernster Komponenten von SPECS® und in Verbindung mit kippbaren Probenhaltern entwickelt, so dass XPS- und SIMS-Techniken ohne Kompromisse auf derselben UHV-Plattform durchgeführt werden können. Die PHOIBOS 150 HV-Analysenserie ist das Instrument der Wahl für die Hochenergie-XPS-Analyse (HAXPES). Hochspannungsnetzteile und ein hochstabiles Analysator-Design ermöglichen die Photoemission bis zu einer kinektischen Energie von 7 keV, die die meisten der vorhandenen Röntgenlichtquellen und Synchrotronanlagen abdeckt. Dieser Analysator kann im Hochspannungsmodus und zusätzlich in allen relevanten Analysemodi betrieben werden, wie (M)XPS, UPS, sowie AES, ISS und LEISS. Sein Design und die modulare Zusatzhardware machen diesen Analysator zum vielseitigsten PES-Analysator auf dem Markt. Er kann leicht mit allen verfügbaren SPECS-Detektionssystemen aufgerüstet werden. Der integrierte 1D-DLD-Detektor ist das leistungsfähigste Detektionssystem auf dem Markt. Die direkte Detektion von Elektronensignalen liefert quantitative Zählungen pro Sekunde (cps), und die leistungsstarke Elektronik ermöglicht ultraschnelle Schnappschussmessungen des Energiespektrums